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達慧多元化EDA工具的特色 |
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多功能模組頁面
 採用「頁籤」方式呈現出所查詢及分析的工程資料、分析結果及統計圖表，供使用者隨時切換頁籤，並且比較及歸納資料所呈現的意義。
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產品階層的資訊分析
整合各種產品資訊與測試資料，使用者可清楚的判讀在產品各種屬性下的資訊與其表徵意義。
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快速資料查詢列表
簡便勾選即可依據產品資料的範圍，呈現工程資料列表，迅速進入分析主題。
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豐富的圖表分析工具
以產品管理與工程分析為目的，提供產品工程所需的各種統計作圖與報表分析。
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工程探索(Data Exploratory)操控功能
透過使用者的操控，可全面的了解工程狀況、程度、及品質水準，並且找出呈現問題的資訊與關鍵參數。
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達慧EDA工具的介紹 |
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UEDA
針對IC 上下游所有產品工程階段之生產測試資料，包含WAT、CP、FT個別模組分析，以及參數相關性分析，提供工程管理人員最快速、最深入的分析工具。
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Yield Tracer
針對IC產品製造階段的各種良率資訊，提供時間與類別的群組分析，並且執行各種產品總覽與良率追蹤之報表服務。
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UEPA
針對IC電性測試的參數資料(Test Log Data)，專注於參數類型各種統計分析(Distribution Analysis)與晶粒單位(Chip Level)的參數分析。
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UWIP
在製品(WIP)工程分析，包括產品與外包商類別統計與出貨量預估。
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豐富的圖表分析工具
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Trend
Chart
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Histogram
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Box Plot
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Bar Chart
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CDF Plot
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Prato Plot
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Scatter Plot
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Weibull Plot
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多重參數分布
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Data Table (多重排序與篩選)
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群組分析(Group Summary)
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相關性分析(Correlation)
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快速CP MAP瀏覽 |
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良率分析圖形工具
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CP Yield Map
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Failure Bin Stack Map
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Distribution Threshold Map
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